PCBA元件焊点强度推力测试标准NO元件名称检测方式图片试验仪器测试方法1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、 ≥0.60Kgf判合格。1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥1.00Kgf判合格。1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥1.50Kgf判合格。1、消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥2.50Kgf判合格。1、消除阻碍四脚IC边缘的其它元器件2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥3.00Kgf判合格。1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥3.50Kgf判合格。1、消除阻碍6脚 IC元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥3.50Kgf判合格。1、消除阻碍八脚IC边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥4.00Kgf判合格。1、消除阻碍二极管(SOD323)边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥1.50Kgf判合格。1、消除阻碍二极管(SOD123)边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥2.00Kgf判合格。1.、消除阻碍三极管（SOT-23）边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥3.00Kgf判合格。1、消除阻碍5脚 IC元器件边缘的其它元器件；2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥2.00Kgf判合格。1、消除阻碍MOS管边缘的其它元器件2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥4.00Kgf判合格。1、消除阻碍电感边缘的其它元器件2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥4.00Kgf判合格。推力标准（Kgf）1CHIP0402推力推力计0.602CHIP0603推力推力计1.003CHIP0805推力推力计1.504CHIP1206推力推力计2.505四脚 IC推力推力计3.006五脚 IC推力推力计3.507六脚 IC推力推力计3.508八脚 IC推力推力计4.009二极管SOD323推力推力计1.5010二极管SOD123推力推力计2.0011三极管SOT-23推力推力计3.0012三极管推力推力计3.5013MOS管推力推力计4.0014电感推力推力计4.0015晶振推力推力计1、消除阻碍晶振边缘的其它元器件2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、≥3.00Kgf判合格。3.00备注:如在PCBA元件焊点强度测试过程中,元件不在上表范围内,可依上表类似元器作参照,进行推力测试及判定.制批准：作：审核：