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集成电路和形成集成电路的方法[发明专利]

2023-03-03 来源:个人技术集锦
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:集成电路和形成集成电路的方法专利类型:发明专利

发明人:彭士玮,庄正吉,赖志明,曾健庭,林威呈申请号:CN201910639714.X申请日:20190716公开号:CN110729289A公开日:20200124

摘要:集成电路包括第一栅极、第二栅极、第一接触件和第一绝缘层。第一栅极在第一方向上延伸并位于第一层级上。第二栅极在第一方向上延伸,位于第一层级上,并且在与第一方向不同的第二方向上与第一栅极分离。第一接触件在第二方向上延伸,与第一栅极和第二栅极重叠,位于与第一层级不同的第二层级上,并且至少耦合至第一栅极。第一绝缘层在第二方向上延伸,与第一栅极和第二栅极重叠,并且位于第二栅极和第一接触件之间。本发明的实施例还涉及形成集成电路的方法。

申请人:台湾积体电路制造股份有限公司

地址:中国台湾新竹

国籍:CN

代理机构:北京德恒律治知识产权代理有限公司

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