专利名称：诊断装置及诊断方法专利类型：发明专利
发明人：藤井隆亮,佟正,上西大辅申请号：CN201811282510.7申请日：20181031公开号：CN109719567A公开日：20190507
摘要：本发明涉及一种诊断装置及诊断方法，该诊断装置(10)具备：主轴旋转频率取得部(26)，其取得主轴旋转频率(Fm)；周期取得部(28)，其取得在加工对象物体的表面产生的痕纹的周期(D)；进给速度取得部(30)，其取得对加工对象物体的表面进行镜面加工时的刀具的进给速度(V)；痕纹频率计算部(32)，其根据周期(D)和进给速度(V)，计算出成为痕纹的原因的痕纹频率(Fp)；原因频率计算部(34)，其计算出成为痕纹频率(Fp)产生的原因的原因频率(Fc)；以及报告部(24)，其报告产生原因频率(Fc)的振动的周边装置是否位于机床(12)的周边。
申请人：发那科株式会社
地址：日本国山梨县南都留郡忍野村忍草字古马场3580番地
国籍：JP
代理机构：上海华诚知识产权代理有限公司
代理人：刘煜
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