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ZnO薄膜材料制备技术及其应用领域研究

2024-03-14 来源:个人技术集锦
Science&Technology Vision 职校科技 科技视界 2012年05月第14期 ZnO薄膜材料制备技术及其应用领域研究 姜明 崔传文 (山东信息职业技术学院 山东【摘潍坊261 061) 要】近几年,Zn0作为宽禁带半导体受到人们越来越多的重视。和目前最成功的宽禁带半导体材料GaN相比,ZnO具 有很多优点。本文综述了ZnO薄膜的制备的主要方法及其优缺点。并深入探讨了ZnO薄膜材料的应用及其发展前景。 【关键词】ZnO薄膜;应用;微电子 近几年.由于短波长激光二极管LD激光器的前景,人们 对宽禁带半导体的研究产生了极大的兴趣。目前已经制造出 GaN和ZnSe基的蓝光发光二极管和激光器。蓝色发光器件 脉冲激光沉积技术(PLD)的使用可以追溯到20多年前, 瞬间蒸发的等离子体有充足的动能,在相对较低的衬底温度 下能够沉积高质量的ZnO薄膜,薄膜组分也能够精确控制; 而且非接触加热,无污染,适宜于超高真空下制取高纯薄膜。 脉冲激光沉积生长速率较低,一般--4,时生长几十到几百个 纳米,生长的ZnO薄膜的质量很好,因此可实现原子层状生 长.也可以用来制备ZnO/CdxZn 0和ZnO/MgxZn O多层结 构材料 由于蒸发ZnO陶瓷靶材会导致微量ZnO分解,沉积在衬 的研制成功,使得全色显示成为可能,而且可以制作出高亮 度和高效率的白光发射器件。本文系统综述了ZnO薄膜的制 备的主要方法及其优缺点。并探讨ZnO薄膜材料的应用前 景。 1 ZnO薄膜的制备技术 1.1磁控溅射 底上的ZnO薄膜会有较多的空位,因此在生长室中通入一定 量的0。是生长化学计量比的ZnO单晶体的关键。PLD法生 长ZnO薄膜的衬底温度相当高,这有利于ZnO的晶体生长, 但对界面要求苛刻的应用场合却是一个大问题。 1.4金属有机化学气相沉积(MOCVD) 磁控溅射是建立在气体辉光放电基础上的一种薄膜制 备技术。磁控溅射按工作电源可分为直流(Dc)磁控溅射和射 频(RF)溅射两种。直流磁控溅射一般以金属zn为靶材,以Ar 和O 的混合气体为溅射气氛。射频磁控溅射一般用晶体作 为射频振荡器.射频频率一般在5~30MHz之间,溅射用的靶 材一般为粉末烧结的陶瓷ZnO,为保证化学计量比,一般在 金属有机化学气相沉积(MOCVD)是一种广泛用来生长半 导体和氧化物外延薄膜的技术。目前,这项生长技术己发展 到相当成熟的阶段.在工业生长中得到了广泛的应用。 用MOCVD生长ZnO薄膜,一般用二甲基锌(DMZ)或二 溅射气氛中掺人一定比率的0:。溅射气氛有氩氧混合气和纯 氧两种。在溅射过程中,辉光放电产生的正离子经电场加速, 轰击阴极靶材,通过动量交换,将靶材以原子、离子和二次电 子等形式剥离。辉光放电可以通过调节合适的气氛达到自 持。 乙基锌(DEZ)作为锌源。0源一般有0:,CO ,N 0和醇类。目 前,人们普遍采用DEZ作为zn源,纯O 作为氧源。DEM的 蒸气压比DME低,用它生长ZnO,更容易控制生长速率,有 利于控制膜厚和晶粒尺寸的均匀性,有利于提高电子迁移 率。 MOCVD法制备ZnO薄膜的质量随着该技术近年来飞速 1.2离子束溅射和电子束蒸发 高能离子从离子枪喷射到陶瓷靶上,离子与靶材粒子作 动量交换,靶材原子被轰出靶面,溅射粒子在加热的衬底表 面与氧气反应,形成薄膜lll。在溅射系统上装上反射高能电子 衍射装 ̄(RHEED),可以对薄膜生长进行原位监测。电子束蒸 发与离子溅射的原理基本一致,只是电子蒸发时.入射到靶 面的是电子束。 1-3脉冲激光沉积(PLD) 发展有显著地提高。目前,MOCVD是几种能稳定生长单晶 ZnO薄膜的方法之一。综合来看,MOCVD是一种生长高质量 ZnO薄膜的先进设备,很适用于ZnO薄膜的超高频SAW器 件和光电子器件应用研究开发。 1.5分子束外延(MBE)技术 作者简介:崔传文(1983一),男,山东烟台人,硕士,研究方向为薄膜材料,山东信息职业技术学院。 SCIENCE&TECHNOLOGY VISION科技视界l 1 1 5 l iScience&Technology Vision 2012年05月第14期 科技视界 职校科技 分子束外延(MBE)是系统维持高真空度和衬底原子级清 洁的条件下,通过原子、分子或离子的物理沉积实现外延生 长。用分子束外延生长ZnO薄膜,一般是在超高真空fuHv)环 境下,将置于Knudsen室中的金属zn加热蒸发.zn原子与0 原子在衬底表面吸附后发生反应,结晶形成ZnO薄膜。 液PH越小,薄膜对CH4敏感程度越高。而掺Sn,A1形成的 ZnO:Sn、ZnO:A1薄膜可检测乙醇蒸汽,在675K下敏感度最 高,G/Go=190。Kwon等人还利用多元掺杂制得ZnO薄膜. 4.Owt%Al ̄O3、1.0 wt%TiO2、0.2wt%VzO5,作为气敏层.可检测三 甲胺气体。 2.4压敏器件 ZnO因其非线性系数高,电涌吸收能力强,在电子电路 2 ZnO膜的应用 2.1压电器件 等系统中被广泛用来稳定电流,抑制电涌及消除电火花。但 通常烧结成瓷、划片所作的压敏电阻,因工艺限制.很难做到 很低的压敏低压。而采用ZnO薄膜便可做到较低的压敏低 ZnO薄膜具有优良的压电性能,如高机电耦合系数和低 介电常数,是一种用于体声波(BAW)尤其是表面声波(SAW)的 理想材料。 2.2太阳能电池 ZnO薄膜尤其是AZO(ZnO:AI)膜,具有优异的透明导电 性能,可与ITO(In20,:Sn)膜相比。而且相对ITO膜,ZnO膜无 压。贾锐等人用喷雾热分解法在350 ̄C下合成了ZnO:Bi:O,: MnO:=99:0.5:0.5的薄膜,650 ̄C下退火1h,发现薄膜具有e 轴取向,压敏电压为13.15V,非线性系数or=8.09。 毒性,价廉易得,稳定性高,正逐步成为ITO薄膜的替代材 料,在显示器和太阳能电池等领域得到应用。 ZnO主要是作为透明电极和窗口材料用于太阳能电池, 3结论 近几年,由于短波长LD、LED在信息领域具有很大的应 用前景,人们对宽禁带半导体的研究产生了极大的兴趣。 ZnO材料无论是在晶格结构,晶格常数还是在禁带宽度上都 与GaN很相似,对衬底没有苛刻的要求而且很容易成膜。本 文系统综述了ZnO薄膜的制备的主要方法,并探讨ZnO薄 ZnO受高能粒子辐射损伤较小,因此特别适合于太空中使 用。Groenen等人利用扩展热等离子束技术制得ZnO:A1薄 膜,(p<10-31"h ̄m,T>8O%),不含cd、sn等元素,用于p-i一/1结构 o/一Si:H太阳能电池,其效率为7.7%。ZnO薄膜中还可掺人B 来增加电学性能的稳定性。用氢等离子处理的ZnO:Ga薄膜 也可作为太阳能电池的窗口材料, =13%。 2.3气敏元件 膜材料的应用前景。e 【参考文献】 [1]Nishizawa S.,Tsurumi T.,Hyodo H.,et a1.Structural changes in ZnO/NiO artiifcial superlattices made by ion beam sputtering[J].Thin Solid Films,1997(302):l33—139. ZnO薄膜光电导随表面吸附的气体种类和浓度不同会 发生很大变化,据此特点,ZnO薄膜可用来制作表面型气敏 器件,通过掺入不同元素,可检测不同的气体,其敏感度用该 气氛下电导G与空气中电导G0的比值G/Go来表示。Bae、 [2]贾锐,武光明,宋世庚,等.喷雾热分解法制备ZnO系低压压敏薄 膜[J].硅酸盐学报,1999(27):505—507. Tan等人用Sol—ge1分别合成了ZnO薄膜气敏元件,对CO、 H 和CH 等均有较高的敏感度,试验表明:配制的前驱体溶 [责任编辑:王静] (上接第260页)7经济收益计算 对此次实验的各4批装有新旧两种形式的搅拌进行经 济收益计算: (5.88+6.01+5.77+5.98)一(5.71+5.91+5.80+5.88)=0.34 其他运行费用的条件下,每批罐多收入6647.85元。 8讨论 安装新式U型搅拌能明显的增加产品收入,我们将继续 致力于进行科技攻关,为提高青霉素产量增加产品收入努 (0.34/4)*197.5"100=1678.75即安装u型搅拌比直叶搅 拌每批多出总亿1678.75。 力。e 【参考文献】 [1]熊宗贵.发酵工艺与原理【M】.中国科学技术出版社 按现在车间三步收率72%计算出,则 每批多出钾盐1678.75*0.72=1208.7总亿,即120.87十 亿。 按现在钾盐价格55元/十亿计算,则 120.87*55=6647.85元.即安装新式u型搅拌在不增加 [责任编辑:周娜] 1 1 6l科技视界scIENcE&TEcHN。L。GY V s 。N 

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