专利名称：借助X射线检验装置对检验部件进行自动缺陷识别
的方法
专利类型：发明专利
发明人：克劳斯·巴芬迪克,弗兰克·黑罗尔德申请号：CN200610078929.1申请日：20060427公开号：CN1854723A公开日：20061101
摘要：本发明涉及借助X射线检验装置对检验部件进行自动缺陷识别的方法，该X射线检验装置具有X射线管、检测器以及用于在X射线检验装置的光路中安置检验部件的机械操纵器，其中将该检验部件的定位图与理想的参考图进行比较。根据本发明首先计算旋转轴、转角以及移动向量，以实现检验部件的定位图与理想参考图的精确的一致性，随后旋转轴、转角以及移动向量的值被传送到机械操纵器，并且该操纵器将检验部件送到相应于这些值的位置，并且在该位置由在X射线检验装置中的X射线生成检验部件的比较图，该比较图用于与X射线参考图比较。
申请人：依科视朗国际射线有限公司
地址：德国汉堡
国籍：DE
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
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