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计算机X射线摄影(CR)质量控制检测操作细则

来源:个人技术集锦


计算机X射线摄影(CR)质量控制检测操作细则

为规范实施普通医用X射线机性能检测,参照行标WS 76-2020《医用X射线诊断设备质量控制检测规范》,结合我单位检测设备,制定《 计算机X射线摄影(CR)质量控制检测操作细则》。

本细则采用Ray Safe X2多功能数字测量仪及辅助设备,模体进行检测,检测时按照说明书及实际情况进行操作。细则顺序按照检测最优化检测流程进行排序。

通用检测项目

1.管电压指示的偏离(验收/状态)、曝光时间指示的偏离(验收)、有用线束半值层(验收/状态)

将医用诊断X射线机(CR)系统球管与探测板垂直,调节高度,使球管中心与诊断床的距离为1m,即SID为1m,打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于光野焦点中心。 (1)验收检测: ①管电压指示的偏离

在允许最大射线管电流的50%或多一些,加载时间(曝光时间)约为0.1s,分别在大小焦下的条件下至少应进行60kV、80kV、100kV、120kV或电压接近这些值的各档曝光测量至少三次,并根据偏差公式计算。 计算公式:

ViVoEv100% VoEv管电压测量相对偏差,%;Vi管电压测量的平均值,单位为千伏(kV);

VO管电压预设值,单位为千伏(kV)。②曝光时间指示的偏离

选择80kV或最接近档位,常用管电流时间积50mAs或近似,重点检测临床常

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用时间档,如:100ms,250ms,500ms,测量三次,计算偏差。

TT100%TE-曝光时间测量相对偏差,%;ET曝光时间测量的平均值,单位为ms;T曝光时间预设值,单位为ms。

(2)状态检测: ③有用线束半值层

选择80kV或最接近档位,常用管电流时间积50mAs或近似,曝光至少三次直接读取半值层测量值,以三次测量值做平均值,记录平均值为最终的半值层。 2.输出量重复性、输出量线性(验收/状态) (1)输出量重复性

调节焦点到探测器的距离为100cm,即SID为1m,[小型便携式机及透视实时摄影(点片)系统可采用实际SID值],诊断床上设置照射野为10cm×10cm,中心线束与台面垂直,照射野内放置一块规格厚2mm,面积15cm×15cm的铅板。 在1步骤中,将R/F探测器放在诊断床上照射野中心的铅板上,以80kV,无附加滤过的条件下,适当的管电流时间积(50mAs左右)照射5次,计算每管电流时间积的输出量,并计算输出量的重复性:

1CVK2(KK)in1100%

式中:

CV:变异系数;%

Ki:每次空气比释动能读数,mGy;

k: n次空气比释动能测量值的平均值,mGy;

n:空气比释动能的测量值总次数。 (2)输出量线性

①调节焦点到探测器的距离为100cm,即SID为1m,诊断床上设置照射野为10cm×10cm,中心线束与台面垂直。打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于光野焦点中心。

②选择80kV或最接近档位、常用管电流时间积档的辐射输出(mGy/mAs),改变管电流或时间,并要使得改变管电流和时间后的积导改变前的管电流时间积

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相同或近似,并测量每次改变后的辐射输出量,照射3次,计算各相邻两档间的线性。

K1K2I1t1I2t2K1K2I1t1I2t2

L12

L12 :相邻两档间的线性度;

K1、K2:分别为1/2两档的空气比释动能测量值的平均值 ,mGy; t1、、t2:分别为1、2两档的曝光时间,s ; I1、I2:分别为1、2两档的电流值,mA。

③管电流和时间不可同时调节或者能调管电流时间的设备检测时只改变可调节的参数、再利用上式计算相邻两档的线性。 3.几何特性(验收/状态)

本次检测采用准制度检测板和线束垂直测试筒(检测筒)进行检测。 将检测板(厚1mm,规格18cm×24cm)放在影像接收器上,然后将检测筒放在检测板上检测筒的圆心与检测板的中心对准,调节胶片距为100cm(或常用胶片距),即SID为1m,用手动方式将光野中心与检测板上的中心对。 (1)光野与照射野四边的偏离

将光野边界与检测板上18cm×24cm的长方框线重合,选择适当档50kV,管电流时间积10mAs左右曝光,获取影像,调整窗宽窗位使影像分辨力最优化,并将影像放大到适当倍数,测量横轴上的偏离a1、a2(规定长轴为a、短轴为b),纵轴上的偏离b1、b2。(光密度较大的区域为照射野,线条方框中为光野) 如重合不了,则记录下光野与检测板刻线的距离。光野大于照射野的部分为正值,照射野大于光野的部分为负值。 (2)有用线束垂直度偏离

可查看(1)曝光的后的影像,调整窗宽窗位使影像分辨力最优化,并将影像放大到适当倍数,观察检测筒上下两钢珠影像间的位置。检测筒上表面中心钢珠的影像落在小圆影像内时,垂直度偏差小于3°,落在大圆影像内时,垂直度偏差小于6°。

4. 自动曝光控制响应、自动曝光控制重复性

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(1)自动曝光控制响应

打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于照射野焦点中心。将一块20mm厚,面积15cm×15cm铝板放在R/F探头照射野焦点中心,调节照射野小于铝板的尺寸如照射野10cm×10cm,在自动曝光条件下进行,选取3档不同管电压设置的条件下,进行曝光。例如,在80kV、100kV、120kV 照射3次,读取记录Ray Safe X2主机上的剂量值;然后将1.5mm厚度的铜板置于前块铝板上,保证测试几何条件不变,在自动曝光条件下进行,选取3档不同管电压设置的条件下,进行曝光。例如,在80kV、100kV、120kV 照射3次,读取记录Ray Safe X2主机上的剂量值。根据加1.5mm厚度的铜板前后两次记录的剂量值计算偏差(最终的偏差取绝对值最大),公式如下:

DDi100%DiEDi-加1.5mm厚度铜板前后剂量测量值相对偏差,%; EDiD加1.5mm厚度铜板前后的剂量测量平均值;Di加1.5mm厚度铜板前后的剂量测量值。(2)自动曝光控制重复性

打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于照射野焦点中心。将一块20mm厚,面积15cm×15cm铝板放在R/F探头照射野焦点中心,调节照射野小于铝板的尺寸如照射野10cm×10cm,选择适当档位,在自动曝光条件下进行照射,每次曝光后及时记录管电流时间积的显示值。计算五次曝光管电流时间积读数的重复:

CV1n1D CV-变异系数,%; (DiD)2100%D-n次曝光管电光管电流时间值的平均值,单位为毫安秒(mAs); Di-第i每次曝光管电流时间积读数值,单位为毫安秒(mAs);n-曝光读光读取管电流时总次数 。

专用检测项目

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对于入射空气比释动能的提前用剂量仪找到各项检测项目所需的大小,按照下面的方法进行做好准备:连接R/F探头,并置于光野焦点中心,选择适当条件电压70kV,电流200mA或近似,调节时间,控制mAs,首次可将mAs调节为1,曝光,读取剂量值,按照剂量的与mAs的线性关系,找到对影像探测器入射空气比释动能如约1μGy、5μGy、10μGy、20μGy、30μGy,并记录此时的实际入射空气比释动能值及mAs,移去R/F探头。按照上述曝光条件,调节mAs在探测器入射面约1μGy、5μGy、10μGy、20μGy、30μGy空气比释动能进行曝光。 1、IP暗噪声

(1)检测前对选用的IP进行一次擦除处理

(2)任选3-5块IP放入阅读器中,用自动定标或固定定标算法和系统增益至最大,使用窗宽和窗位并分别获取软拷贝影像。

(3)读取每块IP的指示值,其值应在生产厂家的规定值范围内,WS 76-2020《医用X射线诊断设备质量控制检测规范》表C.4。

(4)在显示器上观察原始全野影像应清晰、均匀一致,无伪影。如果超出两块IP影像上发现有不均匀一致或伪影,应对所有IP进行该项检测和评价。 2、IP响应均匀性和一致性

(1)任选相同尺寸的三块IP分别采用80kVp,0.5mm和1mmAl滤过,焦点到IP距离(SID)为180cm,选择100μGy入射空气比释动能的曝光条件对每一块IP曝光,每次曝光后保持相同的延迟时间读取,获得三幅硬拷贝照片或软拷贝影像。 (2) 每一块IP应完全置于X射线束中均匀曝光,并保持重复的放置和相同取向。如果出现明显足跟效应,应将IP旋转1800方向各使用一半的入射剂量进行两次曝光。

(3)用胶片光密度计分别测量每幅照片的中央区和四个象限区中心点光密度,获取并记录五个点光密度值;或者对工作站一幅影像中选中央和四个象限的感兴趣区(ROI)获取五个平均像素值。选取的各感兴趣区面积应大致相同。

(4)对单幅照片五个点计算平均光密度值或五个影像感兴趣区的平均像素值,所有单点测量值在五点的平均值的士10.0%内一致,则单一IP的响应均匀性良

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好。单块IP的五点平均值在三块IP总平均值的10.0%内一致,则三块IP的一致性良好。 3、剂量指示校准

(1)任选不同尺寸的三块IP分别采用80kVp,0.5mmCu和1mmAl过滤,焦点到IP距离为180cm,选择10μGy入射空气比释动能的曝光条件对每一块IP曝光,每次曝光后保持相同的延迟时间读取,获得三幅硬拷贝照片或软拷贝影像。 (2)用厂家提供IP处理条件对每块IP读取,获得三幅软拷贝影像,获取CR系统的剂量指示所显示的读数值,计算IP曝光后响应空气比释动能K响应。 (3)每块IP测量空气比释动能K测量与K响应在±20.0%内一致。每块IP响应值与三块IP的平均响应值之间误差应在±10.0%内一致。 K响应的计算公式: ①爱克发医疗:

扫描平均水平(SAL):

K响应(μGy)=6.17×10-6 ×SAL2

(12bit)

基于对数的扫描平均水平(SAL-log):

K响应(μGy)=6.17×10-6 ×10[(SAL-log/10000)+3.9478]

(15bit)

基于对数的像素值指数(PVI-log):

K响应(μGy)=9.473×10-8 ×10[(PVI-log+64460)/13287.5]

(16bit)

①富士胶片:

K响应(μGy)=1740/S S:感度值 ①柯尼卡-美能达:

K响应(μGy)=1740/S S:感度值 ①锐珂医疗:

K响应(μGy)=8.7×10[(EI-2000)/1000] EI:照射量指数 6、IP响应线性

(1)使用单独一块IP,在80kVp,0.5mmCu和1mmAl过滤,焦点到IP距离为180cm,分别在约1μGy、10μGy、100μGy入射空气比释动能的曝光条件下,对同一块IP按顺序进行三次曝光---读取周期,每次曝光后保持相同的延迟时间读取。

(2)用生产厂家提供的IP处理条件对IP三次曝光后在工作站上获取三幅影像,记录CR系统剂量指示所显示的读数值。利用公式计算1P 三次曝光的响应空气比释动能。公式参见表B .l 。

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(3)对单个IP 在三个不同的曝光档中,测量空气比释动能(uGy )与响应空气比释动能(uGy )在±20%内一致。

(4)如果测量超过规定值,应采用生产厂家设定的1P 响应线性的曝光/读取条件( 参见表B .2 )重新进行检验。

7、激光束功能

(1)用一把钢尺放在IP暗盒中心,使其长边垂直于激光束扫描线(通常激光束扫描线垂直于IP长边),选择60KVp,不加过滤,SID为180,cm,用约50μGy入射空气比释动能对IP曝光,获取一幅软拷贝影像。

(2)用10-20倍放大镜观察放大影像,观察钢尺长边应为一条连续的直线,表明激光束没有颤动,如果发现钢尺直边有颤动,则用工作站的ROI测量工具测量,不应大于±1像素尺寸。 8、空间分辨力与空间分辨力均匀性

(1)选用两个相同型号空间分辨力测试卡,线对范围在0.6lp/mm-10lp/mm ,同时放置在一个IP暗盒表面,两个呈正交(水平和垂直),在60kVp,不加滤过,SID为180cm,用约50μGy入射空气比释动能对IP曝光并读取,获取一幅硬或软拷贝影像。

(2)用10-20倍放大镜在硬或软拷贝影像上观察两线对卡影像中最大可分辨的线对数目,分别记录水平水平和垂直方向上的该线对数目:R水平和R垂直。

(3)从观察影像中测出R 水平 和R 垂直 与生产厂家提供该IP 的极限空间分辨力(f Nyquist )相比较( 参见表B .2 ),则R 水平 / f Nyquist 和R 垂直 / f Nyquist 应大于90%。

(4)用一块屏/片摄影用的密着检测板,对已擦除过的同一 块IP ,使用(1) 的相同曝光条件下进行曝光和读取,获取另一幅硬或软拷贝影像。

(5)观察整个影像区域 ,若密着检测板网格的影像呈均匀一 致,无模糊区域,无混叠伪影,表明IP 分辨力均匀性良好。

9、低对比度细节检测

(1)选择适当的低对比度细节检测模体,放置在IP的暗盒表面,选取适当

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管电压和适当的过滤,SID为180cm,分别用1μGy、10μGy、50μGy入射空气比释动能曝光,依次对同一个暗盒完成三次曝光并读取,读取时间应使用相同延迟时间采集三幅硬或软拷贝影像。

(2)在观片灯箱上或工作站的监视器上 ,分别观察硬或软拷贝模体影像 ,按模体说明书要求 ,观察和记录模体影像中可探测到最小细节。

(3)验收检验应按模体说明书要求判断;对验收检验的数据建立基线值 ,状态检验和稳定性检验应与基线值进行比较。

10、空间距离准确性

(1)将两把有刻度的铅尺分别垂直和水平放置在一个IP暗合上,用60kVp,无滤过,SID为180cm,约50μGy入射空气比释动能对IP曝光并读取,采集一幅软拷贝影像。

(2)用测距软件在监视器上对铅尺影像读取两个方向的测量距离(dm),和铅尺的真实距离(do),分别记录出它们的读数值。在垂直和水平两个方向上,则(dm-do)/do均应在±2.0%以内符合。 11、IP擦出完全性

(1)将一块大于3mm厚的铅板(4cm×4cm)放置在一个IP暗盒中央区,用60kVp,无滤过,SID为180cm,约500μGy入射空气比释动能对IP曝光并读取,然后,再在上述条件无铅板的情况下,约10μGy入射空气比释动能对IP第二次曝光,获取一幅软拷贝影像。

(2)在工作站上观察第二次曝光的影像,不应存在第一 次曝光留下的铅板的幻影。否则,表明IP 板擦除不完全。然后应用1.1 条款的暗噪声检查方法 ,将IP 插人阅读器再扫描一 次后重复读取图像后,IP 的暗噪声应在厂家规定值内(参见表D .2 )。

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12、技术要求

(1)CR系统通用检测项目检测要求

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(2)CR系统专用检测项目检测结果

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