专利名称：双通道主动可调式干涉仪专利类型：实用新型专利发明人：孙伟,仲佳勇
申请号：CN201720896984.5申请日：20170724公开号：CN207180594U公开日：20180403
摘要：本实用新型涉及一种用于激光等离子体光学诊断的干涉仪，尤其是一种双通道主动可调式干涉仪。用干涉法测密度已广泛的用于激光等离子体和磁性材料的探测研究中。本干涉仪采用激光作为探针光照射待测物体，通过分光技术，可以多通道测量待测样品的阴影图像、干涉条纹特征。本实验仪将激光器、等离子体参数测量和参照系统通过60mm笼式框架全部集成，统一固定在一个光学平台上，并集成于一个箱体之中。激光器被固定在箱体中，不再需要对激光器进行调整，使得操作简单，方便快捷，保证工作效率，有利于等离子体状态的研究，尤其在测量激光驱动的等离子体参数时减少了激光打靶发次，可以大幅度的节约成本。
申请人：北京师范大学
地址：100875 北京市海淀区新街口外大街19号
国籍：CN
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