专利名称：一种测量测绘卷尺专利类型：实用新型专利发明人：田兴改,田兴辉,朱敏晨申请号：CN201821268559.2申请日：20180808公开号：CN208620919U公开日：20190319
摘要：本实用新型公开了一种测量测绘卷尺，包括卷尺壳体与容栅传感器，所述容栅传感器包括两组相对设置的第一动栅、第二动栅与第一定栅、第二定栅，动栅与定栅分别静电耦合；所述卷尺壳体顶部设置有确认按键与功能按键，卷尺壳体具有空腔，空腔的上部设置有电池仓，电池仓固定安装在卷尺壳体的内壳壁上，其上依次设置有PCB主电路板、LED背光板与液晶显示板，PCB主电路板电连接LED背光板与液晶显示板；所述空腔内卷曲有可从卷尺壳体的开口抽出或卷进的弹性尺条，弹性尺条具有第一定栅，弹性尺条沿卷尺壳体开口向外延伸，其上设置有基准针尺条，基准针尺条的延伸端与弹性尺条的延伸端相平行，基准针尺条上设置有测量基准针。
申请人：艾普瑞(上海)精密光电有限公司
地址：201100 上海市闵行区颛兴东路1528号11幢4楼
国籍：CN
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