专利名称：基于四端子直流电位检测信号的裂纹电导率测定方
法
专利类型：发明专利
发明人：陈振茂,蔡文路,解社娟,裴翠祥申请号：CN201510718109.3申请日：20151029公开号：CN105259220A公开日：20160120
摘要：基于四端子直流电位检测信号的裂纹电导率测定方法，首先搭建四端子直流电位测量系统，加工制作应力腐蚀裂纹平板试件，并沿裂纹长度方向进行切割，获得包含部分应力腐蚀裂纹的切片试件，然后利用所搭建的直流电位测量系统测量切片试件裂纹附近区域的电位分布，计算相邻两点的电位差；进一步利用恒流场的控制方程，计算不同电导率情况下的电位差分布，对比分析实验测量的电位差信号和不同电导率情况下的电位差计算结果，获得扫描位置应力腐蚀裂纹的电导率值。本发明方法可以简单准确的测定复杂结构件的电导率，具有操作简单，易实现，数据量小，目标测量区域微小的优点，可以广泛应用于固体导电材料的电导率测量。
申请人：西安交通大学
地址：710049 陕西省西安市咸宁路28号
国籍：CN
代理机构：西安智大知识产权代理事务所
代理人：何会侠
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